Preskoči navigacijo

Skenirne merilne glave

Skenirne merilne glave lahko za merjenje oblike, dimenzij oziroma lege vsako sekundo zajamejo nekaj sto točk na površini merjenca.

Skenirne glave lahko zajemajo tudi diskretne točke, podobno kot glave s proženjem na dotik.

Na voljo je paleta rešitev za vse velikosti in konfiguracije koordinatnih merilnih strojev.

Skeniranje

Skeniranje izvrtine Skeniranje omogoča hiter zajem podatkov o obliki in profilu prizmatičnih in kompleksnih komponent.

Medtem ko merilne glave s proženjem na dotik merijo diskretne točke na površini, sistemi za skeniranje zajemajo veliko večjo količino podatkov o površini in nudijo bolj jasno sliko o obliki obdelovanca. Skeniranje je zato najprimernejše za aplikacije, pri katerih oblika merjenca predstavlja pomemben delež celotne napake oziroma pri katerih je potrebna kontrola kompleksnih površin.

Skeniranje zahteva bistveno drugačen pristop h konstrukciji senzorjev, krmiljenju stroja in analizi podatkov.

Skenirne merilne glave Renishaw so opremljene z inovativnimi, lahkimi pasivnimi mehanizmi (brez motorjev ali zapornih mehanizmov) z visoko lastno frekvenco, zato so primerne za visokohitrostno skeniranje. Izoliran optični merilni sistem meri odklon tipala neposredno (torej ne preko sklopljenih osi mehanizma merilne glave) in zagotavlja večjo natančnost ter hitrejši dinamični odziv.

Kako sistem za skeniranje zajema in analizira podatke o površini?

Skenirna glava konstantno meri odklon tipala, ki v kombinaciji s položajem stroja omogoča določanje položaja površine. Konica tipala je med skeniranjem v stalnem stiku s površino in med premikanjem zbira podatke. Med merjenjem mora biti odklon tipala znotraj merilnega območja glave.

Pogoj za optimalne rezultate je tesna integracija krmilne glave in krmilja stroja, kakor tudi uporaba sofisticiranih filtrirnih algoritmov za pretvorbo izmerjenih vrednosti v uporabne informacije o površini. Algoritmi za upravljanje postopka skeniranja se prilagajajo konturi delov ter spreminjajo hitrost glede na ukrivljenost površine (na ravnih površinah je hitrost pomika večja) in prilagajajo hitrost zajema podatkov (zajamejo več podatkov tam, kjer je površina bolj dinamična).

Morda bi vas zanimalo tudi ...

Trenutno si ogledujete naše sisteme za skeniranje. Morda bi se želeli seznaniti tudi s sistemom za petosno skeniranje REVO