Application note: Particle analysis of trace fingerprint residue (pdf)

Velikost datoteke: 1,34 MB Jezik: English Kataloška številka: AN233(EN)-01-A

Details of how the inVia™ Qontor© confocal Raman microscope and Particle Analysis software module were used to analyse traces of material in fingerprint residues.

Za to vrsto datotek je potreben pregledovalnik, ki ga dobite brezplačno na naslovu Adobe

Drugi jeziki

日本語

Niste našli iskane vsebine?

berätta vad du inte hittade så gör vi vårt bästa för att hjälpa till