Preskoči navigacijo

Ramanski vmesnik inLux™ za SEM

Univerzalna rešitev za in situ ramansko analizo v SEM

Inovativni ramanski vmesnik inLux™ za SEM opremi komoro vašega vrstičnega elektronskega mikroskopa z visokokakovostno ramansko funkcionalnostjo. Zdaj lahko zajemate ramanske spektre za 2D in 3D posnetke ter istočasno delate z vrstičnim elektronskim mikroskopom. Vzorec se med snemanjem z vrstičnim elektronskim mikroskopom in zajemom ramanskih podatkov ne premakne, zato lahko računate na natančno kolociranje pri primerjavi ramanskih posnetkov in slik SEM.

Vmesnik inLux ponuja celovit obseg ramanskih zmogljivosti. Možen je zajem spektrov v eni ali več točkah, kakor tudi priprava 2D in 3D konfokalnih ramanskih posnetkov. Vmesnik inLux že v standardni izvedbi omogoča vse našteto ter analiziranje območij, ki so večja od 0,5 mm po vsaki osi. Vmesnik zagotavlja krmiljenje položaja z dajalniki do natančnosti 50 nm za precizno ramansko snemanje.

Stik z nami

Ramanski vmesnik inLux za SEM

Ključne prednosti

  • Bogate informacije – istočasno se izvajajo ramanska, fotoluminiscenčna (PL) in spektralna katodoluminiscenčna (CL) analiza, rezultati pa so kolocirani s slikami SEM.
  • Univerzalnost – z vmesnikom inLux je mogoče opremiti vrstične elektronske mikroskope različnih proizvajalcev in s komorami različnih velikosti, modifikacije na mikroskopu pa niso potrebne.
  • Neinvazivnost – sondo inLux je mogoče popolnoma umakniti z enim samim klikom. Sonda tako ne moti drugih funkcij mikroskopa ali poteka dela, ko je ne uporabljate.
  • Določitev porazdelitve – standardna možnost izdelave konfokalnih ramanskih posnetkov za preproste meritve heterogenosti vzorcev.
  • Ogled vzorcev – optični prikaz velikih območij in montaža za vizualizacijo vzorcev in iskanje območij zanimanja.
  • Prilagodljivost – do dve različni vzbujalni valovni dolžini laserskega žarka ter opcijski modul CL.
  • Avtomatizacija – preklapljanje med valovnimi dolžinami laserja z enim klikom za ramansko analizo težavnih vzorcev.

Aplikacije vmesnika inLux

Posnetek vrstičnega elektronskega mikroskopa prikazuje onesnaženo vbrizgalno šobo za gorivo

Identifikacija onesnaževal

Ramanska spektroskopija je brezkontaktna in neporušna tehnika, ki daje visokospecifične kemijske informacije in je zato idealna za identifikacijo onesnaževal. Ramanska spektroskopija se še posebej izkaže pri analizi ogljika in organskih onesnaževal, ki jih je težko ločiti z elementno analizo. Vrstični elektronski mikroskop omogoča iskanje in preučevanje morfologije malih delcev onesnaževal, ki jih ni mogoče razločiti z elektronskim mikroskopom. Z vmesnikom inLux je te delce nato mogoče neposredno ramansko analizirati, ne da bi bilo treba premakniti vzorec.

Več informacij o onesnaževalih

Sestavljeni SEM-ramanski posnetek identifikacijske kartice

Analiza materialov

Večina novih lastnosti materialov izhaja iz njihove velikosti, oblike ali debeline. Grafen, nanopaličice in nanocevke so primeri materialov, pri katerih je visoka povečava vrstičnega elektronskega mikroskopa ključna za vizualizacijo vzorcev. Ramanska analiza razkrije kemijsko sestavo in strukturo materiala, kakor tudi informacije o fizikalnih lastnostih. Vmesnik inLux pripravi ramanske posnetke, ki ilustrirajo kristaliničnost, napetosti in elektronske lastnosti, te posnetke pa lahko nato korelirate s slikami elektronskega mikroskopa.

Več informacij o materialih

Povezava z različnimi ramanskimi sistemi iz Renishawa

Vmesnik inLux se uporablja v kombinaciji z raziskovalnimi ramanskimi spektrometri in programsko opremo iz Renishawa. Ta oprema omogoča celovite možnosti obdelave in analize, uporaba pa je intuitivna in preprosta. Od identifikacije onesnaževal v industriji do akademskih raziskav: vmesnik inLux vam bo pomagal, da boste kar najbolje izkoristili svoj vrstični elektronski mikroskop.

Ramanski analizator Virsa

Ramanski analizator Virsa™

Vmesnik inLux je za namensko ramansko analizo mogoče povezati z ramanskim analizatorjem Virsa. Analizator Virsa je kompaktna in stroškovno ugodna rešitev za ramansko analizo v SEM, ponuja pa visoko občutljivost in spektralno ločljivost, kot jo pričakujete od raziskovalnega ramanskega sistema v ohišju za montažo na rack nosilce.

Izvedite več o analizatorju Virsa
Ramanski mikroskop inVia Qontor

Konfokalni ramanski mikroskop InVia™

Povežite vmesnik inLux s konfokalnim ramanskim mikroskopom inVia in najbolje prodajani raziskovalni ramanski mikroskop na svetu tako opremite z možnostjo analize v vrstičnem elektronskem mikroskopu. Mikroskop inVia zagotavlja vodilno zmogljivost in občutljivost z izborom vzbujalnih valovnih dolžin laserja, detektorjev in mrežic. Idealen je za analizo vsakega ramansko aktivnega materiala. Mikroskop inVia lahko uporabljate neodvisno za ramansko analizo. Vrstični elektronski mikroskop bo tako na voljo drugim uporabnikom, ko niso potrebne meritve in situ.

Izvedite več o ramanskem mikroskopu inVia

Ali želite izvedeti več?

Vaše lokalno predstavništvo vam bo z veseljem pomagalo pri vaši poizvedbi.
Lahko izpolnite obrazec, ali pa nam pošljete e-poštno sporočilo.

Stik z nami

Prejemajte zadnje novice

Ostanite na tekočem z novicami o naših zadnjih inovacijah, dogodkih, aplikacijah in prihodu novih izdelkov, ki jih boste prejemali neposredno v poštni predal.

Želim se naročiti

Prenosi: ramanski vmesnik inLux za SEM

Podroben opis

ParametriVrednost
Masa< 20 kg
Dolžina optičnega kabla4,6 m
Združljivi ramanski spektrometriKonfokalni ramanski mikroskop Renishaw InVia, analizator Renishaw Virsa
Združljivi modeli SEMZdružljiv z modeli vseh glavnih ponudnikov SEM
Odprtina v SEMPotrebna je prosta stranska ali zadnja odprtina v SEM
Zmogljivost dajalnika SEMVmesnik inLux ne zahteva nobenih modifikacij na mikroskopu in ga lahko popolnoma umaknete, ko ga ne uporabljate. Vmesnik tako ne moti delovanja mikroskopa ali druge opreme.
Upravljanje premikovSledilna ploščica, programska oprema WiRE
Kontaktna zaščitaSenzor dotika, nadzor varnega delovnega prostora z absolutnimi dajalniki
Laserska varnostVklop laserja je povezan z vakuumom v komori
Ramansko kartiranje/snemanjeStandardno
Izbira modula z optičnim vlaknomDo dve različni vzbujalni valovni dolžini laserja + opcijski katodoluminiscenčni modul
Razpoložljive vzbujalne valovne dolžine laserja405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (ostale po naročilu)
Vklapljanje laserjaAvtomatsko, motorizirano in programsko vodeno
Lateralna prostorska ločljivost< 1 µm pri 532 nm
Konfokalna zmogljivost< 6 µm pri 532 nm
Spektralna ločljivostGlejte tehnični list spektrometra
DimenzijeŠ 804 mm x V 257 mm x G 215 mm