Konfokalni ramanski mikroskop InVia™
Vrhunski raziskovalni konfokalni ramanski mikroskop je izjemno zmogljiv in v najkrajšem času pridobi najboljše podatke.
Mikroskop je preprost za uporabo, kljub temu pa zagotavlja izjemno zmogljivost in zanesljive rezultate, tudi pri najzahtevnejših eksperimentih. Iz diskretnih točk lahko ustvarite bogate in podrobne kemične posnetke ter zelo konkretne podatke. Mikroskopu inVia zaradi njegove neprekosljive prilagodljivosti zaupajo znanstveniki in inženirji po vsem svetu.
Lastnosti
Mikroskop inVia sestoji iz dveh glavnih komponent: raziskovalnega mikroskopa in visokozmogljivega ramanskega spektrometra. Delo z mikroskopom je preprosto, njegova zmogljivost pa vrhunska – s kombinacijo velike množine zajetih podatkov, visoke spektralne ločljivosti in stabilnosti daje zanesljive rezultate tudi pri najzahtevnejših meritvah.
Visokoučinkovita optična zasnova mikroskopa inVia zagotavlja najboljše ramanske podatke, tudi pri snoveh v sledeh. Če potrebujete tako hitro in zanesljivo izdelavo bogatih in podrobnih kemičnih posnetkov kakor tudi visokospecifične podatke iz diskretnih točk, je mikroskop inVia idealen sistem za vas.
Za podrobnejše informacije si prenesite brošuro o mikroskopu inVia.
Hitrost in občutljivost
Visoka občutljivost vam omogoča spremljanje šibkih ramanskih signalov ter hitro analizo snovi v sledeh, monoslojev in šibkih sipalcev. Stigmatična optična zasnova z ramanskim mikroskopom v osi skrbi za visoko optično učinkovitost, odlično zaščito pred razpršeno svetlobo in neprekosljivo občutljivost.
Visoka prostorska ločljivost
Optična zasnova omogoča zelo visoko stopnjo konfokalnosti (sposobnosti zavračanja signalov, ki ne prihajajo iz območja zanimanja). S tem sta zagotovljeni visoka stabilnost in najvišja možna prostorska ločljivost, ki je omejena le z mejo uklona svetlobe.
Visoka spektralna zmogljivost
Instrument lahko razloči spektralne značilnosti, ki so ožje od 0,5 cm-1, in s tem bližnje ramanske pasove. Z njim lahko ločite zelo podobne snovi, kot so polimorfi v farmacevtskih pripravkih. Zaradi visoke stabilnosti lahko spremljate tudi drobne spremembe v legi ramanskih pasov (do 0,02 cm-1).
Vrhunska stabilnost
Posebna osnovna plošča v obliki satovja drži mikroskop inVia in laserje na svojem mestu ter je tako stabilna, da običajno ni potrebna optična ali protivibracijska mizica. Glavne premične komponente so opremljene z visokonatančnimi dajalniki Renishaw, ki skrbijo za to, da je vse na pravem mestu.
Spektralna prilagodljivost
Mikroskop inVia lahko optimalno prilagodite za analiziranje svojih konkretnih vzorcev. Mikroskop podpira več laserjev z avtomatiziranim računalniško krmiljenim preklapljanjem. S spreminjanjem vzbujevalne valovne dolžine lahko hitro določite najboljšo konfiguracijo, s katero boste pridobili zanesljive podatke iz vseh svojih vzorcev.
Prilagodljivo vzorčenje
inVia podpira raziskovalne pokončne, invertne in odprte modularne mikroskope, kakor tudi sonde z optičnim vlaknom za analizo na daljavo. Združljiv je z različnimi objektivi in okoljskimi celicami ter omogoča analizo vzorcev v raznih okoljskih pogojih.
Aplikacije
Raziskave farmacevtskih proizvodov
Pri komercialnih formulacijah, za katere je že potekla patentna zaščita in ki imajo mnogo sestavin in lastnosti, je zelo zaželena možnost določanja sestave, velikosti domen in porazdelitve. Mikroskop inVia ima izjemno kemijsko specifičnost in občutljivost ter ustvarja podrobne kemične posnetke najrazličnejših formulacij.
Raziskave polimerov
Ramanski mikroskop InVia zagotavlja kemijsko specifičnost in občutljivost na nedestruktiven način, manipulacija z vzorci in njihova priprava pa nista potrebni. To je pomembno pri raziskavah polimerov oz. pri iskanju novih materialov, izboljševanju učinkovitosti obstoječih materialov in nižanju stroškov izdelka.
Ohranitev izostritve v realnem
času s tehnologijo LiveTrack
Mikroskop inVia uporablja tehnologijo samodejnega sledenja izostritve LiveTrack™ za sproten zajem točnih in ponovljivih spektrov in topografije pri vzorcih, za katere je značilna velika variabilnost po višini. Ustvarite osupljive 3D-posnetke neravnih, ukrivljenih ali grobih površin brez predskeniranja. Za primer si oglejte videoposnetek.
Ali želite izvedeti več?
Vaše lokalno predstavništvo vam bo z veseljem pomagalo pri vaši poizvedbi.
Lahko izpolnite obrazec, ali pa nam pošljete e-poštno sporočilo.
Prejemajte zadnje novice
Ostanite na tekočem z novicami o naših zadnjih inovacijah, dogodkih, aplikacijah in prihodu novih izdelkov, ki jih boste prejemali neposredno v poštni predal.
Prenosi: ramanski mikroskop InVia
-
Brochure: inVia confocal Raman microscope [en]
Renishaw inVia: The world's best selling high-performance Raman microscope
-
Product note: Centrus detector [en]
At the heart of Renishaw’s Raman systems, Centrus is more than just a detector; it is key to the implementation of advanced Renishaw technologies
-
Product note: inVia Qontor confocal Raman microscope [en]
The inVia™ Qontor® confocal Raman microscope is a flexible research-grade instrument with unique real-time focus tracking capabilities.
-
Technical note: Polarised Raman spectroscopy using the inVia Raman microscope [en]
This note demonstrates that the inVia confocal Raman microscope is an ideal tool for polarisation studies.
-
Product note: MS30 high speed encoded stage [en]
The MS30 high speed encoded stage is a high performance, optically encoded, motorised sample stage for use with Renishaw’s Raman systems.
-
Product note: Inverted microscopes for inVia [en]
Renishaw's inVia Raman spectrometers can be equipped with inverted microscopes instead of, or in addition to, the standard upright microscopes.
-
Technical note: LiveTrack focus-tracking technology [en]
LiveTrack focus-tracking technology maintains optimum focus for both white light and Raman imaging to give stunning 3D images.
-
Product note: Rayleigh imaging using the inVia™ confocal Raman microscope [en]
Product note detailing how you can perform Rayleigh imaging on the inVia confocal Raman microscope.
Podroben opis
Na voljo so trije modeli mikroskopa inVia: od našega paradnega konja inVia Qontor, ki je popolnoma avtomatiziran in opremljen s tehnologijo za sledenje izostritve, do vstopnega sistema inVia Basis.Parameter | Vrednost | |
| Obseg valovnih dolžin | 200 nm do 2200 nm | |
| Podprti laserji | Od 229 nm do 1064 nm | |
| Spektralna ločljivost | 0,3 cm-1 (FWHM) | Običajno najvišja potrebna: 1 cm-1 |
| Stabilnost | < ±0,01 cm-1 | Variabilnost osrednje frekvence pasu Si 520 cm-1 na krivulji prilega, določena po več meritvah. Doseženo s spektralno ločljivostjo 1 cm-1 ali več |
| Spodnje mejno valovno število | 5 cm-1 | Običajno najnižje potrebno: 100 cm-1 |
| Zgornje mejno valovno število | 30.000 cm-1 | Standardno: 4.000 cm-1 |
| Prostorska ločljivost (lateralna) | 0,25 µm | Standardno: 1 µm |
| Prostorska ločljivost (aksialna) | < 1 µm | Standardno: < 2 µm. Odvisno od objektiva in laserja |
| Velikost detektorja (standardno) | 1024 pikslov × 256 pikslov | Ostale možnosti |
| Delovna temperatura detektorja | –70 °C | |
| Podprti Rayleighovi filtri | Neomejeno | Do štirje filtrski seti v avtomatiziranem nosilcu. Neomejeno število dodatnih filtrskih setov v kinematičnih nosilcih z natančnim pozicioniranjem in ročnim preklapljanjem |
| Število podprtih laserjev | Neomejeno | Standardno eden. Za več kot 4 dodatne laserje je potrebna pritrditev na optično mizico |
| Osebni računalnik z Windowsi za krmiljenje | Osebni računalnik s sodobnimi specifikacijami in z operacijskim sistemom Windows® | Vključuje delovno postajo, zaslon, tipkovnico in sledilno kroglico |
| Napajalna napetost | 110 V AC do 240 V AC +10% -15% | |
| Napajalna frekvenca | 50 Hz ali 60 Hz | |
| Značilna poraba moči (spektrometer) | 150 W | |
| Globina (dvolaserski sistemi) | 930 mm | Osnovna plošča za dva laserja |
| Globina (trilaserski sistemi) | 1116 mm | Osnovna plošča za tri laserje |
| Globina (kompaktna) | 610 mm | Do trije laserji (odvisno od vrste laserja) |
| Značilna masa (brez laserjev) | 90 kg |
Ogled vzorcev | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Stereo slika (skozi binokular) | ■ | ▲ | ▲ |
| Shranjevanje v pomnilnik in samodejni ogled po zajemu | - | ▲ | ▲ |
| Programski nadzor mikroskopa | - | ▲ | ▲ |
| Samodejno preklapljanje med belo svetlobo/ramanskim slikanjem | - | ▲ | ▲ |
| Samodejno shranjevanje bele svetlobe s podatki | - | ▲ | ▲ |
| Kombinirano ogledovanje videa v beli svetlobi in z laserjem | - | ▲ | ▲ |
| Samodejno ostrenje v beli svetlobi (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Zajem ramanskih podatkov | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Samodejna merilna vrsta | ▲ | ▲ | ▲ |
| Samodejno sledenje izostritve (LiveTrack) | - | - | ▲ |
Preverjanje poravnave in delovanja | inVia Basis | inVia Reflex | inVia Qontor |
| Interni vir za umerjanje v valovni dolžini neona | - | ▲ | ▲ |
| Interni referenčni etaloni za samodejno umerjanje | - | ▲ | ▲ |
| Samodejna korektura ramanske kalibracije (hitro umerjanje) | ▲ | ▲ | ▲ |
| Samodejna poravnava laserja | ▲ | ▲ | ▲ |
| Samodejna poravnava ramanskega signala | ▲ | ▲ | ▲ |
| Kontrola stanja | - | ▲ | ▲ |
Legenda
| - ni na voljo | ■ opcija | ▲ v obsegu dobave |