Konfokalni ramanski mikroskop inVia™ InSpect
Naš najbolje prodajani konfokalni ramanski mikroskop, optimiziran za analizo sledov v forenzičnih laboratorijih.
Identificirajte snovi, ki jih je težko ali zamudno identificirati z drugimi tehnikami, kot so trdi kristalinični prahovi, keramične črepinje in stekleni drobci. Analiza je preprosta in zahteva le malo ali nobene priprave.
Lastnosti
Ramanski mikroskop inVia InSpect vam omogoča:
- Visokospecifično identifikacijo – ramanski mikroskop lahko razloči kemične strukture, tudi zelo podobne.
- Visoko prostorsko ločljivost – primerljivo z ostalimi tehnikami mikroskopiranja
- Različne tehnike za doseganje kontrasta – vključno s svetlim poljem, temnim poljem in polarizacijo, ter z odsevno in presevno svetlobo
- Analizo delcev – uporabite napredne algoritme za prepoznavo objektov na slikah in funkcije vodenja instrumenta za karakterizacijo porazdelitve delcev
- Korelativno snemanje – ustvarite kompozitne posnetke tako, da kombinirate ramanske podatke z drugimi tehnikami mikroskopiranja
Za podrobnejše informacije si prenesite brošuro inVia InSpect.
Empty Modelling™
Programska oprema Empty Modelling uporablja tehniko multivariatne analize za razčlenitev kompleksnih podatkov na sestavne dele. To lahko skupaj z iskanjem po knjižnicah uporabite za analizo podatkov vzorcev, ki vsebujejo neznane snovi.
Kartiranje StreamHR™
Kartiranje StreamHR usklajuje delovanje visokozmogljivega detektorja mikroskopa InSpect in mikroskopske mizice MS30. Na ta način se poviša hitrost zajema podatkov in prihrani čas pri ustvarjanju posnetkov.
Popolna avtomatizacija
Poravnavo, umerjanje in konfiguracijo lahko upravljate s programsko opremo Renishaw WiRE. S klikom na gumb lahko npr. preprosto preklapljate med ogledom vzorcev in ramansko analizo.
Aplikacije
Sledi smodnika
Mikroskop inVia InSpect je celovita rešitev za analizo smodniških delcev ne glede na njihov izvor, ki omogoča iskanje in identifikacijo organskih in anorganskih sledi. V tem dokumentu je opisanih nekaj glavnih lastnosti in koristi uporabe ramanske tehnike pri analizi smodniških delcev.
Ponarejeni dokumenti
Obstaja mnogo različnih vrst črnil z enako barvo in različno kemično sestavo. Ramanska analiza z ramanskim mikroskopom inVia omogoča hitro in nedestruktivno analizo spornih dokumentov s potrebno specifičnostjo za razlikovanje med podobnimi črnili, ki so videti enaka.
Ali želite izvedeti več?
Vaše lokalno predstavništvo vam bo z veseljem pomagalo pri vaši poizvedbi.
Lahko izpolnite obrazec, ali pa nam pošljete e-poštno sporočilo.
Prejemajte zadnje novice
Ostanite na tekočem z novicami o naših zadnjih inovacijah, dogodkih, aplikacijah in prihodu novih izdelkov, ki jih boste prejemali neposredno v poštni predal.
Prenosi: ramanski mikroskop InVia InSpect
-
Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
-
Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
-
Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
-
Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Podroben opis
Parameter | Vrednost | |
| Obseg valovnih dolžin | 200 nm do 2200 nm | |
| Podprti laserji | Od 229 nm do 1064 nm | |
| Spektralna ločljivost | 0,3 cm-1 (FWHM) | Običajno najvišja potrebna: 1 cm-1 |
| Stabilnost | < ±0,01 cm-1 | Variabilnost osrednje frekvence pasu Si 520 cm-1 na krivulji prilega, določena po več meritvah. Doseženo s spektralno ločljivostjo 1 cm-1 ali več |
| Spodnje mejno valovno število | 5 cm-1 | Običajno najnižje potrebno: 100 cm-1 |
| Zgornje mejno valovno število | 30.000 cm-1 | Standardno: 4.000 cm-1 |
| Prostorska ločljivost (lateralna) | 0,25 µm | Standardno: 1 µm |
| Prostorska ločljivost (aksialna) | < 1 µm | Standardno: < 2 µm. Odvisno od objektiva in laserja |
| Velikost detektorja (standardno) | 1024 pikslov × 256 pikslov | Ostale možnosti |
| Delovna temperatura detektorja | –70 °C | |
| Podprti Rayleighovi filtri | Neomejeno | Do štirje filtrski seti v avtomatiziranem nosilcu. Neomejeno število dodatnih filtrskih setov v kinematičnih nosilcih z natančnim pozicioniranjem in ročnim preklapljanjem |
| Število podprtih laserjev | Neomejeno | Standardno eden. Za več kot 4 dodatne laserje je potrebna pritrditev na optično mizico |
| Osebni računalnik z Windowsi za krmiljenje | Osebni računalnik s sodobnimi specifikacijami in z operacijskim sistemom Windows® | Vključuje delovno postajo, zaslon, tipkovnico in sledilno kroglico |
| Napajalna napetost | 110 V AC do 240 V AC +10% -15% | |
| Napajalna frekvenca | 50 Hz ali 60 Hz | |
| Značilna poraba moči (spektrometer) | 150 W | |
| Globina (dvolaserski sistemi) | 930 mm | Osnovna plošča za dva laserja |
| Globina (trilaserski sistemi) | 1116 mm | Osnovna plošča za tri laserje |
| Globina (kompaktna) | 610 mm | Do trije laserji (odvisno od vrste laserja) |
| Značilna masa (brez laserjev) | 90 kg |