Hibridni ramanski sistemi
Povečajte zmožnosti svojega ramanskega mikroskopa Renishaw tako, da ga povežete z drugimi analitskimi sistemi različnih proizvajalcev.
S sistemi za korelativno mikroskopijo iz Renishawa boste lahko vedno prepričani, da z obema tehnikama analizirate isto točko.
Stik z nami
SPM/AFM: nanometrska ločljivost
Kombinirajte ramanski mikroskop inVia™ z vrstičnim tipalnim mikroskopom (SPM), kot je mikroskop na atomsko silo (AFM), za preiskovanje kemijskih in strukturnih lastnosti materialov. Dodajte še kemično ločljivost na nanometrski skali s sistemom ramanske spektroskopije z ojačenimi konicami (TERS) in razkrijte dopolnilne informacije, kot so mehanske lastnosti.
Nanoindentacija: merjenje mehanskih lastnosti
Kombinirajte moč ramanskega mikroskopa inVia z meritvami nanoindentacije in poiščite neposredno korelacijo med mehanskimi in tribološkimi lastnostmi ter kemijskimi podatki, kot so kristaliničnost, polimorfizem, faza in napetosti.
Preberite članek iz revije Microscopy and Analysis Journal
-
Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
Ali želite izvedeti več?
Vaše lokalno predstavništvo vam bo z veseljem pomagalo pri vaši poizvedbi.
Lahko izpolnite obrazec, ali pa nam pošljete e-poštno sporočilo.
Prejemajte zadnje novice
Ostanite na tekočem z novicami o naših zadnjih inovacijah, dogodkih, aplikacijah in prihodu novih izdelkov, ki jih boste prejemali neposredno v poštni predal.