Trenutna stran: Domov - Laserski dajalniki - X-Y sistem (z ravnim zrcalom)

X-Y sistem (z ravnim zrcalom)

Vsebina straniPrenosiPokličite lokalno zastopništvo Stopite v stik z nami prek interneta

Dual axis plane mirror application X-Y (ravninski) sistemi RLE vsebujejo dvoosno lasersko enoto RLU in dve detektorski glavi (konfigurirani za tarčno optiko z ravnim zrcalom). Izbira laserske enote je v veliki meri odvisna od delovnega okolja, pri čemer je enota RLU20 še posebno primerna za aplikacije v vakuumu ali nadzorovanem okolju. Laserske enote RLU10 se vgrajujejo v sisteme RLE10, laserske enote RLU20 pa v sisteme RLE20. 

Podroben opis

Oblika zapisa podatkov Digitalna - RS422 kvadraturni signal
Analogna - 1 Vpp sinus/kosinus
Ločljivost Digitalna - izbirna, do 10 nm (tarčna optika z ravnim zrcalom)
Analogna - sub-nanometrska, z zunanjo interpolacijo (npr. paralelni vmesnik RPI20)
Največja hitrost 1 m/s (pri tarčni optiki z ravnim zrcalom)
Tip laserja HeNe (helij/neon), valovna dolžina 632,8 nm NTP, razred II
Stabilnost frekvence laserja ±50 ppb (RLU10) prek katerega koli enournega obdobja
±2 ppb (RLU20) prek katerega koli enournega obdobja
Življenjska doba laserja nad 50.000 ur
Največja dolžina osi 1 m (pri tarčni optiki z ravnim zrcalom)

Pri aplikacijah brez vakuuma je potrebna kompenzacija lomnega količnika za ohranjanje natančnosti v spreminjajočih se delovnih pogojih. Renishaw ponuja za kompenzacijo teh nihanj v realnem času kvadraturni sistem RCU10.

Vgradnja paralelnega vmesnika RPI20 v sistem RLE omogoča ločljivosti do 38,6 pikometra. Vmesnik sprejema diferencialne analogne 1 Vpp sinusne/kosinusne signale in jih pretvarja v paralelno obliko. Informacije o kompenzacijskem sistemu RCU10, vmesniku RPI20, drugi dodatni opremi za sisteme RLE in sistemu za merjenje položaja HS10 z dolgim dosegom lahko najdete v rubriki Pribor.

Nadaljnji koraki

Če potrebujete več informacij ali vas zanima cena, stopite v stik z nami prek spleta ali se obrnite na vašega lokalnega predstavnika za Renishaw.