Sistem AFM-Raman

Razširite svoje poznavanje nanosveta

Kombinirani AFM/ramanski instrumenti (znani tudi kot sistemi SPM-Raman) omogočajo izboljšano analizo vzorcev s preiskovanjem kemičnih in strukturnih lastnosti materialov na submikrometrski ravni.

Renishaw je razvil optimizirano tehnologijo za neposredno kombiniranje, s katero postane ramanski mikroskop inVia idealen partner za kombiniranje z najrazličnejšimi vrstičnimi tipalnimi mikroskopi (SPM) in nudi zmogljivost ramanske spektroskopije z ojačenimi konicami (tehnike bližnjega polja - SNOM, NSOM) in tehnike Raman-AFM.

Ramanski mikroskop inVia omogoča kombiniranje s katerim koli vrstičnim tipalnim mikroskopom (SPM) ali mikroskopom na atomsko silo (AFM). Na voljo so popolnoma integrirani sistemi s skenerji NT-MDT in Nanonics Imaging Ltd.

Nanotehnološki sistemi za vizualizacijo in analizo, namenjeni raziskavam in industriji

Za maksimalno produktivnost

Le Renishaw ponuja popolnoma integrirane sisteme s skenerji NT-MDT in Nanonics Imaging Ltd. Sistemi AFM-Raman iz Renishawa nudijo te prednosti:

• V sistemih sta popolnoma integrirana mehanski sistem in programska oprema, zato lahko posvetite več časa zbiranju podatkov in analizi
• Hitrejše zbiranje podatkov - neposredna zveza med vzorcem in ramanskim spektrometrom zagotavlja optimalno učinkovitost pri vseh konfiguracijah
• Zaupajte strokovnjakom - prve meritve s tehniko TERS na polprevodniški napravi (izvedene 2001) in s tehniko Raman-AFM/NSOM (izvedene 1995) so bile opravljene z ramanskimi sistemi iz Renishawa
• Izbira ja vaša - Renishaw ima izkušnje in znanje za integracijo sistema SPM, ki ga izberete

Kaj lahko sistem Raman-SPM iz Renishawa naredi za vas?

AFM in Raman
S tem sistemom lahko pridobite podatke skenirne merilne glave z veliko prostorsko ločljivostjo in hitre ramanske podatke daljnega polja (običajno s submikrometrsko ločljivostjo). Ramanske podatke je mogoče shranjevati in korelirati s topografskimi, električnimi, termičnimi in bližnjepoljskimi optičnimi podatki visoke prostorske ločljivosti.

Ramanska analiza vzorca grafena (slika na desni) je identificirala pet različnih debelin grafena, vključno z enoplastnimi in dvoplastnimi območji. Ramanski podatki so bili uporabljeni za vodenje eksperimentov s SPM, t.j. za meritve topografskih značilnosti, kapacitivnosti in prevodnosti v območjih zanimanja.

TERS (oz. ramanski podatki bližnjega polja brez odprtine)
Konica ojači ramanski signal na zelo lokaliziranem delu vzorca znotraj večjega območja, ki ga osvetljuje laserska svetloba. Ta konfiguracija omogoča najvišjo prostorsko ločljivost med vsemi ramanskimi tehnikami.

Izjemno prostorsko občutljivost tehnike TERS je mogoče demonstrirati na primeru materialov v plasteh. Slika prikazuje primerjavo spektra bližnjega polja (TERS) in daljnega polja za tanko plast silicija na SiGe. Izjemna površinska občutljivost tehnike TERS ustvari mnogo bolj intenziven ramanski pas za silicij (pri nižji ramanski frekvenci kot ramanski pas SiGe).

Če želite odkriti, kako lahko s pomočjo te tehnologije bolje spoznate nanosvet, ali če želite izvedeti več o integraciji katerega koli modela SPM oz. AFM z ramanskim mikroskopom inVia, izpolnite spletni obrazec za poizvedbo ali pa se obrnite na vaše lokalno zastopništvo za ramanske izdelke Renishaw.

Aplikacije

Odkrijte širino aplikacij ramanskih sistemov Renishaw

Novice

Zadnje inovacije v ramanski spektroskopiji - prijavite se tukaj za novice